测试标准1IPC-TM-650 2.1.1 E 05/04
测试标准2IPC-610
测试标准3IPC-600
应用领域电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析
PCB结构缺陷PCB分层,孔铜断裂等
目的:电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。
切片分析:
切片的制作固然重要,但它只是一个基础,更重要的是切片的分析和判读。只有对切片做出正确的判读,我们才能找出发生的不良;而只有对不良切片做出正确的分析,才能给出正确有效的措施,降低损失和预防不良的再次发生。
主要用途:是一种观察样品截面组织结构情况的常用的制样手段,
1、切片后的样品常用立体显微镜或者金相测量显微镜观察;
2、切片后的样品可以用于SEM/EDS扫描电镜与能谱观察形貌与分析成份;
3、作完无损检测如x-ray,SAM的样品所发现的疑似异常开裂、异物嵌入等情况,可以用切片的方法来观察验证;
4、切片后的样品可以与FIB联用,做更细微的显微切口观察。
切片分类:
1.纵切片:沿垂直于板面的方向切开,研磨并观察剖面状况的切片称为纵切片。通常用来观察孔在镀铜后的质量、叠构以及内部结合面的状况,如孔铜厚度确认,物性确认,有无内断、内连异常等质量问题。除此以外,像电镀下陷、铜颗粒等不良我们也会做纵切片加以分析。纵切片也是我们切片分析中常用的方式。
2.水平切片:水平切片是顺着板子叠合方向一层层向下研磨,用来观察每一层面的状况。通常用来纵切片进行质量异常的分析判定,如内连异常,我们可以在纵切片的基础上加做水平切片观察内连异常的范围;此外,还可以用来确认内O内S等。
切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法,使内部结构或缺陷暴露出来。
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